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菲希爾鍍層測厚儀、X射線儀器

菲希爾鍍層測厚儀、X射線儀器

簡要描述:
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更新時間:2024-07-04

訪問量:559

廠商性質:經銷商

生產地址:

品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區間面議
產地類別進口應用領域環保,生物產業,制藥,綜合

菲希爾鍍層測厚儀、X射線儀器

可用于測量所有金屬鍍層的厚度以及多鍍層或者合金成分分析,也可以進行電解溶液含量成份分析,帶有國家環保局豁免證書,無放射源設計,安全環保。主要用于微小結構的印刷線路板、電氣元件及大規模生產的零部件上的鍍層測量、分析。

菲希爾X射線測厚儀特點:

1、測量大規模生產的電鍍零部件;

2、測量微小區域上的薄鍍層;

3、測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層;

4、全自動測量,如測量印刷線路板。

菲希爾鍍層測厚儀、X射線儀器


型號

項目

XDLM-231

XDLM-237

通用規格

設計用途

能量色散X射線熒光光譜儀 (EDXRF) ,測量薄鍍層和微小結構樣品,分析合金組分

元素范圍

從元素氯 (17) 到鈾 (92),最多可以同時測定24種元素

工作臺

平臺

固定式樣品平臺

馬達驅動可編程X/Y平臺

可用樣品平臺

463mm x 500mm

300mm x 350mm

X/Y平臺最大移動距離

\

255mm x 235mm

X/Y平臺最大移動速度

\

≤80mm/s

X/Y平臺移動重復精度

\

≤0.01mm(單向)

樣品最大重量

20kg

5kg,降低精度可達20kg

樣品最高高度

140mm

電氣參數

電原要求

AC 220V 50HZ

功耗

最大120W(測量頭,不包括計算機)

保護等級

IP40

環境要求

使用溫度

10℃-40℃

存儲或運輸時溫度

0℃-50℃

空氣相對濕度

≤95%,不結露

計算單元

計算機

Windows®-PC

軟件

標準:Fischer WinFTM® BASIC

可選:Fischer WinFTM® PDM®,SUPER

尺寸規格

外部尺寸

570mm×760mm×650mm

內部測量艙尺寸

460mm x 495mm x146mm

重量

100kg

120kg


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