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泰勒霍普森 DUO 和 S100 系列粗糙儀對比信息

  • 發布日期:2025-08-22      瀏覽次數:20
    • Surtronic DUO:基礎款可直接顯示關鍵粗糙度參數,如 Ra(算術平均粗糙度)和 Rz(最大高度粗糙度),部分版本或配置可能支持更多參數,如 Rq(均方根粗糙度)、Rt(輪廓最大高度)等,但總體以滿足基本需求為主 。這些參數能有效反映表面的粗糙程度,對于一般工業生產中的質量檢測較為實用。

      Surtronic S100:支持全系列表面粗糙度參數檢測,不僅包含基礎幾何特征參數(如 Ra、Rq、Rt ),還涵蓋功能特征參數(如 Rsk 偏態系數、Rmr 材料比曲線)。這使得它能夠更全面、深入地反映表面微觀形貌特征,對于航空航天、精密機械等對表面質量要求高,且需要深入分析表面功能特性的行業更為適用。

      操作界面

      Surtronic DUO:采用類智能手機操作邏輯的三按鈕菜單設計,極為直觀明了。用戶通過簡單按鍵組合即可完成測量模式切換、參數設置等操作,學習成本極低。搭配 2.4 英寸工業級彩色 LCD 屏幕,具備強光可視功能,可實時顯示測量數據、圖形化輪廓曲線及操作提示信息 ,即使在光線復雜的車間環境中也能清晰查看數據。

      Surtronic S100:擁有 4.3 大尺寸工業用觸屏,像其他導航或者智能手機一樣,易讀性強。一頁上可顯示多至 7 個參數,以及測量設置和系統信息,能讓用戶更全面地同時獲取多種測量相關信息。操作上,觸摸屏的設計使得操作更加便捷流暢,對于習慣使用觸屏設備的用戶來說,上手容易。

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