FISCHERSCOPE X-RAY XDL菲希爾X射線測(cè)厚儀系列是應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它是由大眾認(rèn)可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類似,它非常適用于無損測(cè)量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時(shí)還能全自動(dòng)檢測(cè)大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。
FISCHERSCOPE X-RAY XDL菲希爾X射線測(cè)厚儀采用了基本參數(shù)法,因此無論是對(duì)鍍層系統(tǒng)還是對(duì)固體和液體樣品,儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測(cè)量和分析。其測(cè)量范圍為元素氯(17)到鈾(92)。適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:
測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
測(cè)量超薄杜策,例如:裝飾鉻
測(cè)量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
全自動(dòng)測(cè)量,如測(cè)量印刷線路板
分析電鍍?nèi)芤?/p>