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XDLM231菲希爾X射線測厚儀信息

  • 發(fā)布日期:2024-11-15      瀏覽次數(shù):454
    •   FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器專門是為測量超薄鍍層和微含量而設(shè)計,是用于質(zhì)量控制,質(zhì)量檢驗和生產(chǎn)監(jiān)控的最合適的測量儀器。

        FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 設(shè)計為界面友好的臺式測量儀器系列。根據(jù)不同的預(yù)期用途,有不同的版本。 XDLM 231 型的工作臺為固定式工作臺,馬達(dá)驅(qū)動的 Z 軸升降系統(tǒng)。

        XDLM 232 型配有可手動操控的 X/Y 工作臺,馬達(dá)驅(qū)動的 Z 軸升降系統(tǒng)。

        XDLM 237 型則配備了馬達(dá)驅(qū)動的 X/Y 工作臺,當(dāng)保護門開啟時,工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達(dá)驅(qū)動的可編程 Z 軸升降系統(tǒng)。


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